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也来谈谈光学测量的知识 [复制链接]

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离线luxuewu70764
 


    

    叶片出气边的半径补偿错误,此外,因为物体外表存在必定不平度,同时红宝石球的直径要远大于外表不平度,导致测针无法测得物体外表的微小凹陷,红宝石球测针无法测得物体外表的微小凹陷,触摸式丈量的第三个问题在于被测物体的外表特性。如果被测物体外表比较柔软,或精密易损,则不合适使用触摸式测头。当测针触摸物体外表后,轻则使之发生形变,发生较大误差;重则损坏物体外表。

    成像亮度计发现出于以上原因,光学丈量与之相比就有着本质上的优势。光学丈量作为一种非触摸式丈量办法,不使用触摸式测针进行采点,而是利用了光的某方面特性来进行丈量。这样就完全规避了红宝石球的补偿带来的潜在问题,也使被测物体外表不再受到测针触摸带来的影响。至于丈量速度则取决于光学测头的品种。但不管哪种测头,其采点方式都是连续的。并且在采点过程中,光学测头差异于触摸式测头,触摸式测头会因为触摸物体外表时速度过快而被认为发生了碰撞,因为光学测头完全不会遇到这个问题,因而进一步进步了采点速度。

    光学测头的分类办法有许多,品种更是繁复。从丈量原理上一般能够分为共轴丈量和三角丈量;从光源特点上能够分为主动光源和被动光源;从光源维度上能够分为点光源、线光源和面光源;从光源色谱上又能够单色光源和白光源。共轴丈量中常见的办法有两种。其一是干涉法,它利用了光的波长特性,将一束光经过平面分光镜(半透半反)分成两束。一束由镜面反射至参阅平面,另一束则透射至被测物体外表。两束光经叠加后发生干涉条纹,干涉条纹的方式取决于物体的间隔与物体外表的几许特征。另一种是共焦法,从一个点光源发射的探测光经过透镜聚集到被测物体上,如果物体恰在焦点上,那么反射光经过原透镜应当会聚回到光源,这就是所谓的共焦。在反射光的光路上加上了一块半反半透镜,将反射光折向带有小孔的挡板,小孔方位相当于光源。光度计丈量小孔处的反射光强度,强度最大时物体即位于透镜焦点平面,这样即可测得物点的方位。三角丈量则是利用了光源、像点和物点之间的三角联系来求得物点的间隔。成像亮度计

    光源向物体发射一个光点,光点抵达物体后经过反射在传感器上得到一个像点;光源、物点和像点形成了必定的三角联系,其间光源和传感器上的像点的方位是已知的,由此能够计算得出物点的方位地点。有的测头以线光源来替代点光源,将一条由若干光点组成的光条纹投射到物体外表,传感器上接收到的则是二维畸变光线图像,光线的畸变形状取决于每个物点的方位,这样的线光源测头能够大幅进步采点的速度。

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